FT-IR Mikroskopie

Die Kombination von Mikroskop und Spektrometer liefert ein optisches Bild der Probenoberfläche sowie die räumlich zuordenbare chemische Information aus den Infrarot-Spektren. Neben Punktaufnahmen (unterstes Limit: 1,6 μm) ist es möglich, im Imaging-Modus auch ganze Oberflächen-Bereiche zu scannen (z.B. 400 x 400 μm) und auf strukturell ähnliche Bereiche zu untersuchen. Eine Vielzahl von weiteren Anwendungsgebieten, bei denen die räumliche Verteilung von chemischen Substanzen im Mikrometer-Maßstab relevant ist, steht uns mit diesem Gerät offen.